Skip to main content
SUPERVISOR
Parviz Kameli,Mehdi Ranjbar
پرویز کاملی (استاد راهنما) مهدی رنجبر (استاد مشاور)
 
STUDENT
Mohadese Khojaste khoo
محدثه خجسته خو

FACULTY - DEPARTMENT

دانشکده فیزیک
DEGREE
Master of Science (MSc)
YEAR
1396

TITLE

Fabrication and study of magnetic properties of Strontium ferrite (SrFe12 O19) thin films
In this thesis studied the properties of strontium ferrite thin films. Strontium ferrite thin films deposited on the substrates ، STO (100)، LiNb (0001) , ZnO (0001) at 800 ° C and the vacuum environment. We used the pulsed laser deposition method (PLD). One of the samples was annealed at room temperature at 1000 ° C for two hours and the annealing effect was investigated. XRD of the samples show that after annealing the crystal orientation of the layer improves, in other words, annealing helps the sample to crystallize. Raman spectra were taken from the samples to better investigate the effect of stress on the layers. In this spectrum, for two substrates observed ، STO (100) compressive stress and substrate ZnO (0001) tensile stress. Also, SEM of the samples show good grow up particle size after annealing and crystallization. In some cases, the SEM images show the orientation of the C axis. The hysteresis loop of the samples was drawn and studied. The sample exhibits good magnetic anisotropy and this anisotropy disappears with annealing. The sample deposited on the substrate ، exhibits good magnetic anisotropy and this anisotropy disappears with annealing. Annealing in all samples increased the coercivity.
در این پایان نامه ویژگی‌های لایه های نازک فریت استرانسیوم مورد بررسی قرار گرفته است. لایه‌های نازک فریت استرانسیوم با استفاده از روش لیزر پالسی (PLD) بر روی زیرلایه های ، STO (100)، LiNb (0001) و ZnO (0001) در دمای زیرلایه 800 درجه سانتی گراد و محیط خلاء ( ) لایه نشانی شده اند. از هر زیرلایه دو نمونه تهیه شده است. یکی از نمونه ها در دمای 1000 درجه‌ی سانتی گراد در اتمسفر هوا به مدت دو ساعت بازپخت شده است و اثر بازپخت مورد بررسی قرار گرفته است. طیف پراش پرتو ایکس (XRD) نمونه ها نشان می‌دهد بعد از بازپخت جهتگیری بلوری لایه بهتر می‌شود به عبارت دیگر بازپخت به کریستالی شدن نمونه کمک می‌کند. البته در زیرلایه‌ی جابه‌جایی در یکی از قله ها در طیف XRD نشانگر افزایش تنش در این لایه است. همچنین در زیرلایه ZnO اثر ناخالصی که ناشی از برهم کنش بین لایه و زیرلایه است دیده می‌شود. برای بررسی بهتر اثر تنش در لایه ها از نمونه ها طیف رامان گرفته شد. در این طیف برای دو زیر لایه‌ی و STO (100) تنش تراکمی دیده می‌شود و برای زیرلایه‌ی ZnO (0001) تنش کششی مشاهده می‌شود. همچنین در تصاویر SEM نمونه ها به خوبی بزرگتر شدن اندازه ذرات بعد از بازپخت و کریستالی شدن نمونه ها به خوبی دیده می‌شود. همچنین در بعضی از نمونه ها تصویر SEM جهتگیری محور C را نشان می‌دهد. حلقه‌‌ی پسماند نمونه ها رسم و بررسی گردید. نمونه‌ی لایه نشانی شده بر روی زیرلایه‌ی ناهمسانگردی مغناطیسی خوبی از خود نشان می‌دهد و این ناهمسانگردی با بازپخت ازبین می‌رود. بازپخت در همه‌ی نمونه ها باعث افزایش میدان وادارندگی شده است. در نمونه‌‌ی لایه نشانی شده بر روی زیرلایه‌ی STO (100) نیز ناهمسانگردی خوبی دیده می‌شود. اما جهتگیری بلوری در این نمونه زیاد است و به علت تنش زیاد بین لایه و زیرلایه می‌باشد. در نمونه‌ی لایه نشانی شده بر روی زیرلایه‌ی LiNb (0001) جهتگیری بلوری در طیف XRD نشان می‌دهد محور‌C عمود بر صفحه قرار دارد. در زیر لایه‌ی ZnO مغناطش اشباع در دو راستای درون صفحه و عمود بر صفحه باهم برابر نیستند. همچنین برای نمونه‌ی بازپخت شده با زیاد شدن میدان پسماند در میدانهای بالا دیده می‌شود.

ارتقاء امنیت وب با وف بومی