Skip to main content
SUPERVISOR
Ahmad Shirani bidabadi,Parviz Kameli
احمد شیرانی بیدابادی (استاد راهنما) پرویز کاملی (استاد مشاور)
 
STUDENT
Saeid Ghlame nasher
سعید غلامی ناشر

FACULTY - DEPARTMENT

دانشکده فیزیک
DEGREE
Master of Science (MSc)
YEAR
1389

TITLE

Investigation of changes produced in the structure of defects in copper samples during the annealing temperature using positron Lifetime Spectroscopy
Positron lifetime spectroscopy is a reasonably accurate method to study defects in materials.In this method the time difference between emission of the 1.274 MeV gamma-ray (which is emitted Simultaneouswith positron from a 22 Na source) and the 0.511 MeV gamma-ray (which is emitted as a result of positron annihilation in the sample surrounding the source) is measured. This time difference is the positron lifetime in the sample which is directly related to the size and the number of defects in the sample in which the positron has been annihilated. In addition, the structure of defects in a metal sample is changed with annealing temperature and this effect can also be investigated by positron lifetime measurement. In this work, reasonably good time resolving power was first determined for the system using a 60 Co source and then a 22 Na source was placed between two copper samples and positron lifetime was measured at room temperature. Copper samples were then annealed at 150 O C to 650 O C annealing temperatures and positron lifetimes were also measured for these samples and then analyzed using the LT9-2 software. The results obtained show that the average lifetime first decreases with increasing temperature (due to disappearance of some defects in the samples) and then increase due to appearance of some new defects for example creation of grain boundaries in the sample. Keyword : Positron Life time Spectroscopy, 22 Na Source, coincidence system, time resolution, vacancy, defect in samples,positronium ,annealingtemperature
طیف نمایی طول عمر پوزیترون یک روش دقیق برای بررسی نقص های موجود در مواد می باشد.در این روش اختلاف زمانی بین گسیل پرتو گامای 274/1 مگا الکترون ولتی(که همزمان با پوزیترون از یک چشمه سدیم 22 گسیل می شود) و گسیل پرتوی گامای 511/0 مگاالکترون ولتی (که از نابودی پوزیترون حاصل می شود) اندازه گیری می شود. این اختلاف زمانی همان طول عمر پوزیترون می باشد که با اندازه وتعداد نقص های موجود در نمونه ای که پوزیترون در آن نابود می شود، رابطه مستقیم دارد.به علاوه در یک نمونه فلزی در اثر دمای بازپخت(آنیل) ساختار نقص ها دست خوش تغییر می شود که این تغییرات نیز از طریق اندازه گیری طول عمر پوزیترون قابل بررسی هستند. در این کار ابتدا با استفاده از یک چشمه کبالت 60 و تنظیم دقیق دستگاه اندازه گیری طول عمر پوزیترون، قدرت تفکیک مناسبی برای دستگاه به دست آورده و سپس چشمه سدیم 22 را بین نمونه های مسی قرار داده و در دمای اتاق طیف طول عمر پوزیترون در این نمونه ها را اندازه گیری کرده ایم. پس از آن نمونه ها را در دمای مختلف بازپخت از150 تا 650 درجه سلسیوس قرار داده و طیف طول عمر پوزیترون در این نمونه ها اندازه گیری شده و با استفاده نرم افزار LT9-2 مورد تجزیه وتحلیل قرار گرفته اند. نتایج به دست آمده نشان می دهند که با افزایش دمای بازپخت ابتدا متوسط طول عمر پوزیترون بر اثر از بین رفتن بعضی از نقص های موجود در مس، کاهش یافته و پس از آن در اثر تولید مرزدانه ها و ایجاد نقص های جدید افزایش می یابد. واژه های کلیدی: طیف نمایی طول عمر پوزیترون، نقص ها، بازپخت، سیستم سریع/کند، قدرت تفکیک زمانی، نرم افزار .

ارتقاء امنیت وب با وف بومی